Das Zeiss GeminiSEM 300 kann gleichzeitig Inlens-Sekundärelektronenbildgebung und Rückstreuelektronenbildgebung mit einer Auflösung von bis zu 0,7 nm durchführen. Es kann schnelle, qualitativ hochwertige und verzerrungsfreie Bilder mit großer Auflösung und Sub-Nano-Auflösung realisieren. Der EDS-Detektor mit einem 100-mm2-Fenster kann eine quantitative Bestimmung von Punkt-, Linien- und Flächenelementen in Echtzeit durchführen. Der EBSD-Detektor kann verzerrungsfreie EBSPs mit Megapixel-Auflösung für eine detaillierte Dehnungs- und Phasenanalyse sammeln.

Das Spectro Arcos ICP-OES verfügt über eine vertikale Doppelbeobachtungsstruktur (DSOI), die die Empfindlichkeit erhöht und Kontaminations-/Matrixkompatibilitätsprobleme beseitigt. Sein optisches ORCA-System kann Spektren im Bereich von 130–770 nm erfassen. Im Vergleich zu Echelle-basierten Systemen mit Kreuzdispersion unter Verwendung eines Mittelstufengitters und Prismas liefert es Leistung im UV/VUV-Bereich mit einer bis zu fünfmal höheren photoakustischen Signalintensität.

Das SPECTROLAB S ist mit dem weltweit führenden CMOS-basierten Detektoraufzeichnungssystem ausgestattet und eignet sich daher ideal für die High-End-Metallanalyse. Es bietet eine extrem schnelle, hochpräzise und äußerst flexible Analyse für Anwendungen von Spurenelementen bis hin zu Multimatrix.

Der Jena novAA 800F verfügt über ein integriertes Karussell mit RFID-Leser für 8 codierte Hohlkathodenlampen, Deuterium-Hintergrundkorrektur, eine bewährte optische Bank im Einzel- und Doppelstrahlmodus sowie im Emissionsmodus und den neuesten SiOSens-Festkörperdetektor. Seine zahlreichen intelligenten Zubehörteile maximieren die Produktivität, Sicherheit und Benutzerfreundlichkeit für analytische Routinen.

Das universelle Materialprüfsystem 68TM-30 verfügt über 30-kN- und 1-kN-Lastsensoren mit einer Genauigkeit von 0,5 Grad im Bereich von 0,1 bis 100 %. Das Testsystem kann eine integrierte Datenregelung und -erfassung sowie eine automatische Identifizierung und Kalibrierung von Sensoren durchführen. Sein hochpräzises berührungsloses Video-Extensometer AVE2 hat eine Auflösung von 0,5 μm und nutzt ein patentiertes kreuzpolarisiertes Beleuchtungssystem und CDAT-Lüfter, um den Einfluss von Personal, Beleuchtung und Luftstrom auf die Testergebnisse zu eliminieren und so eine hochgradig wiederholbare und genaue Dehnungsmessung zu ermöglichen .

Das VR-5200-Projekt nutzt gestreiftes strukturiertes Licht und einen hochpräzisen CMOS-Sensor, um Bilder aufzunehmen und die Höhe und Position jedes Punktes zu messen. Ausgestattet mit einem Low-Power-Objektiv kann es Bereiche bis zu 200×100×50 mm messen. Das Objektiv mit hoher Vergrößerung reduziert die Anzeigeauflösung auf 0,1 μm und ermöglicht so eine berührungslose Chargenmessung von Form, Schwankungen und Rauheit.

Der IM-8020 verwendet ein duales telezentrisches Objektiv mit außergewöhnlichen Kantenerkennungsfunktionen, um Proben unterschiedlicher Höhe mit nur einem Klick zu messen. Seine Erkennungsleistung ist dank seines 20-Megapixel-CMOS und des neuen Kantenerkennungsalgorithmus dreimal so hoch wie bei herkömmlichen Modellen. Mit einem Messbereich von 300 mm × 200 mm und der doppelten Geschwindigkeit im Vergleich zu herkömmlichen Modellen können bis zu 300 Teile in nur wenigen Sekunden gemessen werden. Dies ermöglicht schnelle, genaue und einfache Messungen, was die Genauigkeit erheblich verbessert und gleichzeitig die Messzeit und menschliche Fehler reduziert.

Der Laser-Partikelanalysator HELOS/BR ist mit einer leistungsstarken und robusten RODOS-Trockendispergiereinheit für die schnelle und wiederholbare Partikelgrößenanalyse trockener Proben ausgestattet. Es hat einen Messbereich von 0,3 bis 175 μm und eine Genauigkeit von weniger als 0,3 %.

Der STA 449F3 Jupiter ist ein robustes, flexibles und einfach zu bedienendes Instrument, das gleichzeitig Kalorieneffekte und Massenschwankungen bestimmt. Es kombiniert ein leistungsstarkes Wärmefluss-DSC mit einer Thermowaage mit Mikrogramm-Auflösung und bietet eine unübertroffene Probenladung und einen unübertroffenen Messbereich.